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Innovate residual service time assessment of industrial plant components using real structure analysis by on site x-ray diffraction

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Évaluation automatique de composants de site industriel

De mise au point récente, l'outil XpectionTool permet l'utilisation automatique de logiciels d'évaluation et d'inspection d'une structure réelle de matériau à partir de données comportant des motifs de diffraction des rayons X à deux dimensions.

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Dans le cadre du projet XPECTION, une méthode innovante de caractérisation du vieillissement des matériaux utilisant la diffraction des rayons X sur site a été mise au point. Cette nouvelle méthodologie d'inspection peut être facilement intégrée à l'infrastructure d'inspection et de maintenance des sites industriels. La méthode met en jeu des matériels et des logiciels d'obtention de données, d'évaluation de durée de vie résiduelle et de simulation de processus. Le prototype expérimental d'XpectionTool couvre toutes les opérations de l'évaluation des données par diffraction des rayons X à deux dimensions Cet outil est très flexible et peut être facilement adapté à n'importe quelle infrastructure. Il utilise les données en format brut et son utilisation ne requiert donc pas d'aptitudes particulières en matière de crystallographie. Même si ses principaux domaines d'application sont l'inspection et la maintenance, cet outil peut également être utilisé pour le contrôle de qualité en production et lors des recherches de matériaux par diffraction des rayons X à deux dimensions. L'outil XpectionTool convient parfaitement à la génération de courant électrique à base d'énergies fossiles et aux secteurs de la pétrochimie. Parmi les autres applications potentielles, citons tous les types de production d'électricité, la fabrication et la maintenance aéronautiques, la pulpe et le papier, les produits chimique, l'alimentation, la fonderie, le ciment et le béton. L'outil XpectionTool est unique dans son développement car l'utilisateur peut effectuer toutes les étapes d'évaluation nécessaires à l'aide d'un seul outil de la façon la plus simple qui soit. Nul besoin de formater les données, d'où une économie à la fois de temps et de ressources. Son adoption peut profiter de façon significative aux secteurs comportant des processus d'inspection, aux fabricants de composants pour la diffraction des rayons X et aux organismes de recherche. Pour de plus amples informations, consulter: http://projects.tecnatom.es/xpection

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