High quality sample operation for nanometric analysis and testing equipments

Projektinformationen

ID Finanzhilfevereinbarung: SMT4972201

Startdatum 1 Januar 1998

Enddatum 30 April 2000

Finanziert unter

• Specific research and technological development programme in the field of standards, measurements and testing, 1994-1998

Gesamtkosten € 0,00

EU-Beitrag Keine Daten

Koordiniert durch

Orsay - Physics SA
France

Schlüsselbegriffe

• Nanotechnology

Programm/Programme

• FP4-SMT - Specific research and technological development programme in the field of standards, measurements and testing, 1994-1998

Thema/Themen

• 0102 - Measurement and testing in the industrial development phase

Aufforderung zur Vorschlagseinreichung

Data not available

Finanzierungsplan

CSC - Cost-sharing contracts

Koordinator

Orsay - Physics SA

• EU-Beitrag: Keine Daten
• Adresse: .,Chéteau d'Arc ; 13710 Fuveau ; Frankreich
• Gesamtkosten: Keine Daten

Beteiligte (4)

LEO Electron Microscopy Limited

Vereinigtes Königreich

• EU-Beitrag: Keine Daten
• Adresse: .,Clifton Road ; CB1 3QH Cambridge
• Gesamtkosten: Keine Daten

Siemens AG

Deutschland

• EU-Beitrag: Keine Daten
• Adresse: Wittelsbacherplatz ; 80333 München
• Gesamtkosten: Keine Daten

Technische Universität Wien

Österreich

• EU-Beitrag: Keine Daten
• Adresse: 7,Floragasse ; 1040 Wien
• Gesamtkosten: Keine Daten

Thomson-CSF

Frankreich

• EU-Beitrag: Keine Daten
• Adresse: Domaine de Corbeville ; 91404 GOMETZ LA VILLE
• Gesamtkosten: Keine Daten