Leading edge Semiconductor, Integration, and Control System Technologies for highly compact and smart eDrive Components towards more sustainable Power Electronics 5.0

Projektinformationen

HiPower 5.0

ID Finanzhilfevereinbarung: 101194250

DOI

10.3030/101194250

EK-Unterschriftsdatum 26 Juni 2025

Startdatum 1 Juli 2025

Enddatum 30 Juni 2028

Finanziert unter

• Digital, Industry and Space

Gesamtkosten

€ 58 183 107,75

EU-Beitrag

€ 16 526 886,85

Koordiniert durch

AVL LIST GMBH
Austria

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Veröffentlichungen

Conference proceedings (3)

A Weibull-Based Statistical Lifetime Assessment Of SiC MOSFETs Under Multivariable Short-Circuit Stress

Autoren: K. Kovács, M. Minárok. J. Kozárik, J. Marek
Veröffentlicht in: 14th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies - ADEPT 2026, 2026
Herausgeber: University of Zilina in EDIS-Publishing Centre of UNIZA
DOI: 10.5281/ZENODO.21452831

Statistical Analysis of Short-Circuit Endurance in SiC MOSFETs under Voltage and Temperature Variations

Autoren: KOVÁCS, Krisztián - MINÁRIK, Michal - KOZÁRIK, Jozef - MAREK, Juraj
Veröffentlicht in: Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOSCDICE EXMATEC 2026)., 2026
Herausgeber: Polish Academy of Sciences
DOI: 10.5281/ZENODO.21452611

Toward Lifetime Prediction Under Variable Load Conditions in Power Electronics: Evaluation of Damage Accumulation Rules for Solder System Attach

Autoren: Tobias Daniel Horn, Jan Albrecht, Anu Mathew, Rico Eichhorn, Sven Rzepka
Veröffentlicht in: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2026, ISBN 979-8-3315-6145-1
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.1109/EPTC67330.2025.11392357

Peer reviewed articles (2)

IEEE Transactions on Power Electronics

Autoren: Sachin Kumar Bhoi; Sajib Chakraborty; Alireza Aghdaei; Anu Mathew; Tobias Daniel Horn; Sebastian Liebig; Jan Albrecht; Christoph Abart; Rik W. De Doncker; Omar Hegazy
Veröffentlicht in: IEEE Transactions on Power Electronics, 2026, ISSN 0885-8993
Herausgeber: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.24406/PUBLICA-6573

A Streamlined Test-Oriented Lifetime Assessment Framework for Automotive Power Electronics Converters

Autoren: Sachin Kumar Bhoi; Sajib Chakraborty; Alireza Aghdaei; Anu Mathew; Tobias Daniel Horn; Sebastian Liebig; Jan Albrecht; Christoph Abart; Rik W. De Doncker; Omar Hegazy
Veröffentlicht in: IEEE Transactions on Power Electronics, 2026, ISSN 1941-0107
Herausgeber: IEEE
DOI: 10.24406/PUBLICA-6573