Leading edge Semiconductor, Integration, and Control System Technologies for highly compact and smart eDrive Components towards more sustainable Power Electronics 5.0

Informazioni relative al progetto

HiPower 5.0

ID dell’accordo di sovvenzione: 101194250

DOI

10.3030/101194250

Data della firma CE 26 Giugno 2025

Data di avvio 1 Luglio 2025

Data di completamento 30 Giugno 2028

Finanziato da

• Digital, Industry and Space

Costo totale

€ 58 183 107,75

Contributo UE

€ 16 526 886,85

Coordinato da

AVL LIST GMBH
Austria

CORDIS fornisce collegamenti ai risultati finali pubblici e alle pubblicazioni dei progetti ORIZZONTE.

I link ai risultati e alle pubblicazioni dei progetti del 7° PQ, così come i link ad alcuni tipi di risultati specifici come dataset e software, sono recuperati dinamicamente da .OpenAIRE .

Pubblicazioni

Conference proceedings (3)

A Weibull-Based Statistical Lifetime Assessment Of SiC MOSFETs Under Multivariable Short-Circuit Stress

Autori: K. Kovács, M. Minárok. J. Kozárik, J. Marek
Pubblicato in: 14th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies - ADEPT 2026, 2026
Editore: University of Zilina in EDIS-Publishing Centre of UNIZA
DOI: 10.5281/ZENODO.21452831

Statistical Analysis of Short-Circuit Endurance in SiC MOSFETs under Voltage and Temperature Variations

Autori: KOVÁCS, Krisztián - MINÁRIK, Michal - KOZÁRIK, Jozef - MAREK, Juraj
Pubblicato in: Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe (WOSCDICE EXMATEC 2026)., 2026
Editore: Polish Academy of Sciences
DOI: 10.5281/ZENODO.21452611

Toward Lifetime Prediction Under Variable Load Conditions in Power Electronics: Evaluation of Damage Accumulation Rules for Solder System Attach

Autori: Tobias Daniel Horn, Jan Albrecht, Anu Mathew, Rico Eichhorn, Sven Rzepka
Pubblicato in: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2026, ISBN 979-8-3315-6145-1
Editore: IEEE
DOI: 10.1109/EPTC67330.2025.11392357

Peer reviewed articles (2)

IEEE Transactions on Power Electronics

Autori: Sachin Kumar Bhoi; Sajib Chakraborty; Alireza Aghdaei; Anu Mathew; Tobias Daniel Horn; Sebastian Liebig; Jan Albrecht; Christoph Abart; Rik W. De Doncker; Omar Hegazy
Pubblicato in: IEEE Transactions on Power Electronics, 2026, ISSN 0885-8993
Editore: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.24406/PUBLICA-6573

A Streamlined Test-Oriented Lifetime Assessment Framework for Automotive Power Electronics Converters

Autori: Sachin Kumar Bhoi; Sajib Chakraborty; Alireza Aghdaei; Anu Mathew; Tobias Daniel Horn; Sebastian Liebig; Jan Albrecht; Christoph Abart; Rik W. De Doncker; Omar Hegazy
Pubblicato in: IEEE Transactions on Power Electronics, 2026, ISSN 1941-0107
Editore: IEEE
DOI: 10.24406/PUBLICA-6573