Skip to main content
Przejdź do strony domowej Komisji Europejskiej (odnośnik otworzy się w nowym oknie)
polski polski
CORDIS - Wyniki badań wspieranych przez UE
CORDIS

SiliconLaser

CORDIS oferuje możliwość skorzystania z odnośników do publicznie dostępnych publikacji i rezultatów projektów realizowanych w ramach programów ramowych HORYZONT.

Odnośniki do rezultatów i publikacji związanych z poszczególnymi projektami 7PR, a także odnośniki do niektórych konkretnych kategorii wyników, takich jak zbiory danych i oprogramowanie, są dynamicznie pobierane z systemu OpenAIRE .

Rezultaty

Recruitment of researchers (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Recruitment of researchers Aim to hire 30 female if possible

Entrepreneurial course (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Organize entrepreneurial course for students.

Surface passivation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Development of surface passivation

Optically pumped SiGe laser (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Observation of optically pumped lasing in Hex-SiGe as a function of temperature

Strain dependent PL, TeraHertz (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Insight into the factors determining the optical properties of HexSiGe

CMOS compatible Hex-SiGe (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on CMOS compatible Hex-SiGe layers

SiGe nanoLED (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Demonstration of an electrically pumped Hex-SiGe LED

Theory (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Calculation of the band gap energy and optical transition matrix elements as a function of HexSiGe composition

p-n junction in Hex SiGe (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Radial/axial impurity p and n-type doping and demonstration of a p-n junction

WZ substrates (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Growth of catalystfree HexSiGe substrate

Synthesis of Hex-SiGe (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Synthesis of HexSixGe1x including structural and chemical analyses

Terahertz conductivity (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Terahertz conductivity measurements on doped HexSiGe NWs

Verification direct bandgap (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Measurement of the basic optical properties of HexSiGe Verification direct bandgap

Continued optimization synthesis (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Continued optimization of synthesis and analysis for WP2,3,4,5.

Annual technical Report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Technical report related to the Technical Action Check Meeting in M14

Lattice parameters (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Measured lattice parameters including lattice strain as a function of HexSiGe composition

Nanolaser Modelling (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Calculation of the gain spectrum

Scientific action check meeting 1 (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Date 14 feb 2019AgendaOpening agendaIntroduction by coordinator WP6All presentations should discuss the status of milestones and deliverablesPresentation on HexSiGe synthesis TUe WP1Presentation on measurements of the lattice parameters and strain distribution JKU WP1Presentation on theoretical calculation on the properties of HexSiGe Jena WP1Presentation on the optical properties of Hex SiGe TUe TUM UOXF WP2Presentation on TeraHertz conductivity measurements and doping UOXF TUe WP3Presentation on surface passivation and ohmic contatcs IBM WP4Presentation on WZ substrates and CMOS integration IBM TUe WP5Agreements for the next yearAmendments to the project

Data Management Plan Report (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Report on the implementation of the data management plan

Spontaneous emission dynamics (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Measurements of the spontaneous emission dynamics in Hex-SiGe NWs

Final technical/ scientific review meeting documents (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Date: 24-8-2021 Opening, agenda Introduction by coordinator (WP6) All presentations should discuss the status of milestones and deliverables Presentation on Hex-SiGe synthesis (TU/e, WP1) Presentation on measurements of the lattice parameters and strain distribution (JKU, WP1) Presentation on theoretical calculation on the properties of Hex-SiGe (Jena, WP1) Presentation on the optical properties of Hex SiGe (TU/e, TUM, UOXF, WP2) Presentation on TeraHertz conductivity measurements and doping (UOXF, TU/e, WP3) Presentation on p-n junction (IBM, WP3) Presentation on the electrically pumped Hex-SiGe nanolaser (TUM) Presentation on WZ substrates and Vitual Hex-SiGe substrates (IBM, TU/e, WP5) Final conclusions of the project and follow-up Closure

Strain dependent PL (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

We intend to show to extend the tuning range of hex-SiGe from the present 1-8-3.5 micron further into the infrared

Technical action check meeting (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Date 1522018Opening agendaIntroduction by coordinator WP6All presentations should discuss the status of milestones and deliverablesPresentation on HexSiGe synthesis TUe WP1Presentation on measurements of the lattice parameters and strain distribution JKU WP1Presentation on theoretical calculation on the properties of HexSiGe Jena WP1Presentation on the optical properties of Hex SiGe TUe TUM UOXF WP2Presentation on TeraHertz conductivity measurements UOXF WP3Presentation on surface passivation IBM WP4Presentation on steps towards CMOS integration IBM TUe WP5Agreements for the next yearAmendments to the projectClosure

Ohmic contact formation (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Ohmic contact formation on p and n-type Hex SiGe

Electrically pumped nanolaser (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Originally: Performance characteristics of an electrically pumped Hex-SiGe nanolaser Amendment: We will submit the outcome of a defect study.

Publikacje

Efficient strain-induced light emission in lonsdaleite germanium (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Suckert, Jens René; Rödl, Claudia; Furthmüller, Jürgen; Bechstedt, Friedhelm; Botti, Silvana
Opublikowane w: Phys.Rev.Materials, Numer 5(2), 2021, Strona(/y) 024602, ISSN 2475-9953
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevmaterials.5.024602

Probing Lattice Dynamics and Electronic Resonances in Hexagonal Ge and Si x Ge 1– x Alloys in Nanowires by Raman Spectroscopy (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Diego de Matteis, Marta De Luca, Elham M. T. Fadaly, Marcel A. Verheijen, Miquel López-Suárez, Riccardo Rurali, Erik P. A. M. Bakkers, Ilaria Zardo
Opublikowane w: ACS Nano, Numer 14/6, 2020, Strona(/y) 6845-6856, ISSN 1936-0851
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.0c00762

A Global-Optimization Study of the Phase Diagram of Free-Standing Hydrogenated Two-Dimensional Silicon (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Pedro Borlido, Miguel A. L. Marques, Silvana Botti
Opublikowane w: The Journal of Physical Chemistry C, Numer 125/11, 2021, Strona(/y) 6298-6305, ISSN 1932-7447
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c10753

Wurtzite InP microdisks: from epitaxy to room-temperature lasing (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Philipp Staudinger, Svenja Mauthe, Noelia Vico Triviño, Steffen Reidt, Kirsten E Moselund and Heinz Schmid
Opublikowane w: Nanotechnology, Numer 32 (7), 2020, Strona(/y) 075605, ISSN 0957-4484
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6528/abbb4e

Epitaxial Ge 0.81 Sn 0.19 Nanowires for Nanoscale Mid-Infrared Emitters (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Michael S. Seifner, Alain Dijkstra, Johannes Bernardi, Andreas Steiger-Thirsfeld, Masiar Sistani, Alois Lugstein, Jos E. M. Haverkort, Sven Barth
Opublikowane w: ACS Nano, Numer 13/7, 2019, Strona(/y) 8047-8054, ISSN 1936-0851
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acsnano.9b02843

Concurrent Zinc-Blende and Wurtzite Film Formation by Selection of Confined Growth Planes (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Philipp Staudinger, Svenja Mauthe, Kirsten E. Moselund, Heinz Schmid
Opublikowane w: Nano Letters, Numer 18/12, 2018, Strona(/y) 7856-7862, ISSN 1530-6984
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.8b03632

Accurate electronic and optical properties of hexagonal germanium for optoelectronic applications (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Claudia Rödl, Jürgen Furthmüller, Jens Renè Suckert, Valerio Armuzza, Friedhelm Bechstedt, Silvana Botti
Opublikowane w: Physical Review Materials, Numer 3/3, 2019, Strona(/y) 034602, ISSN 2475-9953
Wydawca: American Institute of Physics
DOI: 10.1103/physrevmaterials.3.034602

Exploring the Size Limitations of Wurtzite III–V Film Growth (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Philipp Staudinger, Kirsten E. Moselund, Heinz Schmid
Opublikowane w: Nano Letters, Numer 20/1, 2019, Strona(/y) 686-693, ISSN 1530-6984
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.9b04507

Temperature-Dependent Refractive Index of Quartz at Terahertz Frequencies (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Christopher L. Davies, Jay B. Patel, Chelsea Q. Xia, Laura M. Herz, Michael B. Johnston
Opublikowane w: Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, Numer 39/12, 2018, Strona(/y) 1236-1248, ISSN 1866-6892
Wydawca: Springer Verlag
DOI: 10.1007/s10762-018-0538-7

Direct-bandgap emission from hexagonal Ge and SiGe alloys (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Elham M. T. Fadaly, Alain Dijkstra, Jens Renè Suckert, Dorian Ziss, Marvin A. J. van Tilburg, Chenyang Mao, Yizhen Ren, Victor T. van Lange, Ksenia Korzun, Sebastian Kölling, Marcel A. Verheijen, David Busse, Claudia Rödl, Jürgen Furthmüller, Friedhelm Bechstedt, Julian Stangl, Jonathan J. Finley, Silvana Botti, Jos E. M. Haverkort, Erik P. A. M. Bakkers
Opublikowane w: Nature, Numer 580/7802, 2020, Strona(/y) 205-209, ISSN 0028-0836
Wydawca: Nature Publishing Group
DOI: 10.1038/s41586-020-2150-y

Three-dimensional cross-nanowire networks recover full terahertz state (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Kun Peng, Dimitars Jevtics, Fanlu Zhang, Sabrina Sterzl, Djamshid A. Damry, Mathias U. Rothmann, Benoit Guilhabert, Michael J. Strain, Hark H. Tan, Laura M. Herz, Lan Fu, Martin D. Dawson, Antonio Hurtado, Chennupati Jagadish, Michael B. Johnston
Opublikowane w: Science, Numer 368/6490, 2020, Strona(/y) 510-513, ISSN 0036-8075
Wydawca: American Association for the Advancement of Science
DOI: 10.1126/science.abb0924

Entropy-controlled fully reversible nanostructure formation of Ge on miscut vicinal Si(001) surfaces (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Christian Grossauer, Vaclav Holy, Gunther Springholz
Opublikowane w: Physical Review B, Numer 102/7, 2020, Strona(/y) 075420 1-13, ISSN 2469-9950
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevb.102.075420

Unveiling Planar Defects in Hexagonal Group IV Materials (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Elham M. T. Fadaly, Anna Marzegalli, Yizhen Ren, Lin Sun, Alain Dijkstra, Diego de Matteis, Emilio Scalise, Andrey Sarikov, Marta De Luca, Riccardo Rurali, Ilaria Zardo, Jos E. M. Haverkort, Silvana Botti, Leo Miglio, Erik P. A. M. Bakkers, Marcel A. Verheijen
Opublikowane w: Nano Letters, Numer 21/8, 2021, Strona(/y) 3619-3625, ISSN 1530-6984
Wydawca: American Chemical Society
DOI: 10.1021/acs.nanolett.1c00683?rel=cite-as&ref=pdf&jav=vor

Point defects in hexagonal silicon (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Lin Sun; Mário R. G. Marques; Miguel A. L. Marques; Silvana Botti
Opublikowane w: Phys Rev Mat, Numer 5(2), 2021, Strona(/y) 064605, ISSN 2475-9953
Wydawca: American Physical Society
DOI: 10.1103/physrevmaterials.5.064605

Hexagonal silicon grown from higher order silanes (odnośnik otworzy się w nowym oknie)

Autorzy: Yizhen Ren, Philipp Leubner, Marcel A Verheijen, Jos E M Haverkort, Erik P A M Bakkers
Opublikowane w: Nanotechnology, Numer 30/29, 2019, Strona(/y) 295602, ISSN 0957-4484
Wydawca: Institute of Physics Publishing
DOI: 10.1088/1361-6528/ab0d46

Prawa własności intelektualnej

Light emission from hexagonal SiGe

Numer wniosku/publikacji: US TUE-284
Data: 2019-02-18
Wnioskodawca/wnioskodawcy: FRIEDRICH-SCHILLER-UNIVERSITÄT JENA

Light emission from hexagonal SiGe

Numer wniosku/publikacji: US TUE-284
Data: 2019-02-18
Wnioskodawca/wnioskodawcy: TECHNISCHE UNIVERSITEIT EINDHOVEN

Light emission from hexagonal SiGe

Numer wniosku/publikacji: US TUE-284
Data: 2019-02-18
Wnioskodawca/wnioskodawcy: FRIEDRICH-SCHILLER-UNIVERSITÄT JENA

Light emission from hexagonal SiGe

Numer wniosku/publikacji: US TUE-284
Data: 2019-02-18
Wnioskodawca/wnioskodawcy: TECHNISCHE UNIVERSITEIT EINDHOVEN

Wyszukiwanie danych OpenAIRE...

Podczas wyszukiwania danych OpenAIRE wystąpił błąd

Brak wyników

Moja broszura 0 0